Patentometria
Indicadores tecnológicos, classificação IPC/CPC, redes, citações, famílias e mapeamento tecnológico.
Anatomia do documento de patente
Campos-chave: códigos de classificação CPC/IPC, citações para frente e para trás, família de patentes, depositantes, inventores, jurisdições e datas de prioridade.
Indicadores de atividade
Evolução temporal dos depósitos, principais depositantes (empresas e universidades), países líderes e inventores-chave — termômetro do dinamismo tecnológico.
Indicadores de impacto e qualidade
Análise de citações (forward/backward), tamanho de família e número de jurisdições de proteção como proxies de relevância e valor estratégico.
Indicadores de colaboração
Mapas de coautoria e codesenvolvimento; análise de redes sociais (SNA) aplicadas a inventores e instituições para detectar polos e parcerias estratégicas.
Mapeamento tecnológico (IPC/CPC)
Análise das classificações para identificar rotas tecnológicas dominantes, subtemas emergentes e adensamentos/lacunas — visualizadas como mapas de calor e contorno.
Análise de conteúdo e text mining
Extração e clusterização de termos de títulos, resumos e reivindicações para mapear subtemas, tecnologias emergentes e palavras-chave estratégicas (Joung & Kim, 2017).
Patent landscape
Relatório integrado que combina indicadores quantitativos, mapas e análise qualitativa de uma área tecnológica — diretrizes WIPO para preparação.